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老化监控测试系统

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LD老化测试系统

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       普赛斯LD老化测试系统用于发射TO器件、LD器件的生产老化,该系统为每只激光器提供独立电流源,单台设备支持200路激光器老化,可支持1~120ma驱动电流,多台设备通过RS485总线扩展,并由一台电脑实时监控。

产品特点

1、独立驱动:每路独立电流源,每路独立电流、电压监控电路;

2、器件防护:电路过流、过压、浪涌保护设计;

3、可视化界面:上位机软件显示直观,可长期工作,实时保存数据

技术指标


       参数

性能指标

LD驱动电流

0~120mA(1%±0.5mA)

LD正向电压

最大2.5V

LD监视电流

0~120mA(1%±0.5mA)

激光器支持个数

AT-LD-II : 200只器件(单台)

老化插座温度

-55~105

插入损耗

2dB

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