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PIN/APD器件耦合光源与检测系统

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       用于PIN、APD探测器的OSA器件耦合,提供耦合用的光源,以及耦合器件的性能参数监测:雪崩电压、TIA工作电流、响应度、暗电流、回损等。

产品特点

1、提供稳定的不同波长光源;

2、快速检测不同性能指标、可快速显示波形曲线;

3、可监测器件的回损、暗电流。

技术指标

APD器件耦合时检测的性能指标

测量参数

击穿电压、工作电流、响应电流、TIA电流

输出电压源

0-70V,精度0.1V

Vbr

精度<0.5V,测量时间<0.4秒(精度与器件本身的稳定性有关)

Iapd

响应电流:

范围:0-1uA,精度0.05uA,测量时间<0.5

范围:1-10uA,精度0.5uA,测量时间<0.5

范围:10-110uA,精度1uA,测量时间<0.5秒(最大电流取决于输出电压,在不超过40V下可测量最大电流110uA


PIN-TIAVpd)器件耦合时检测的性能指标

Icc

TIA电流,范围:0-80mA,精度1mA,测量时间<0.2

Ipin

响应电流:

范围:0-1uA,精度0.05uA,测量时间<0.5

范围:1-10uA,精度0.5uA,测量时间<0.5

范围:10-110uA,精度1uA,测量时间<0.5


PIN-TIAMon)器件耦合时检测的性能指标

Icc

TIA电流,范围:0-80mA,精度1mA,测量时间<0.2

Imon

响应电流,范围:0-125uA,精度1uA,测量时间<0.5

响应电流,范围:0-12.5uA,精度0.2uA,测量时间<0.5







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