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64路EML器件的TE测试系统

/cn/info_27.aspx?itemid=73

       适用于不同环境工作温度下,同时连续测试64路EML器件(EML_TO、EML_TOSA)的LD综合参数。该系统自动分别测试64路EML LD器件的各种参数,实现TE和TC测试,用于器件的可靠性分析。

产品特点

1、同时测试64路的EML器件的LD综合参数,显示EA的P-V曲线,验证EAM的吸光/透光能力;

2、PID算法快速稳定TEC温度,软件显示TEC曲线,直观显示温度稳定时间;

3、软件显示光谱测试结果,支持多种光谱仪型号;

4、系统自带数据库,可保存所有测量参数和特征曲线图片,支持数据的导出。

技术指标


测试通道数

64

激光器封装类型

LD-/PD- 共阴型(EML

采集参数

驱动电流、正向电压、光功率、背光电流

主要计算参数

IthPoVfImRsSEVinf

驱动电流

范围0-120mA,精度0.1%±0.1mA

MPD暗电流

范围0-100nA,精度1%±1.5nA

背光电流

范围0-2500uA,精度0.1%±5uA

PD检测光功率

范围0-10mW,精度1%±50uW

正向电压

范围0-3.0V,精度0.5%±50mV

LD保护电压

范围0-3.0V,精度0.5%±50mV

电流扫描方式

支持连续电流扫描和脉冲电流扫描,脉冲电流宽度100us

校正功能

用户可自行校准功率、电压、背光

测试时间

扫描步进0.10.2可以配置,1ms/

内置PD响应波长

800-1700 nm(支持850nm VCSEL器件测试)

TEC驱动电流

-2A~+2A,精度1%±10mA

TEC工作电压

最大3V

温度控制

5~80,实际值取决于TEC材料,精度0.5%±0.5

温控速度

25~45升降温稳定时间5s,整个范围内最慢20s

EA电压

-3V~+2V,精度1%±50mV

EA保护电流

-100mA ~ +30mA,精度5%±5mA

数据库

支持本机数据库及SQL数据库服务器/可提供DLL

内置PD直径

1.0 mm(可选择2.0mm3.0mm

光纤适配器

通用适配器(可配FC或万能接头)

通信口

RS232

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