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64路LD-TE测试系统

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       用于在不同温度环境下,连续测试64路OSA器件(TOSA、BOSA)的LD端综合参数测试以及不同温度下的综合参数对比。该系统配套测试夹具可在多种环境下自动分别测试64路LD器件的LIV等参数,实现多路的TE(Tracking Error)和TC(Temperature Cycle)测试,可用于器件的可靠性和性能分析。

产品特点

1、环境测试效率高:同时连续测试环境条件下的64只器件,单颗LIV测试效率<1s;

2、数据分析功能:可保存LD测试的数据和回放各种参数及特征曲线图片,自动对比不同温度下的参数指标。

技术指标


测试通道数

64

激光器封装类型

共阳型和独立型

主要采集参数

驱动电流、电压、光功率、背光电流

主要计算参数

IthPoVfImRsPslope等以及各种定点查找

驱动电流

范围:0-120mA,精度0.1%±0.1mA

背光电流

范围:0-2500uA,精度0.1%±5uA

内置PIN检测光功率

范围:0-10mW,精度1%±50uW

正向电压

范围:0-3.0V,精度0.2%±50mV

电流扫描方式

支持连续扫描和脉冲扫描,脉冲电流宽度100us

校正功能

用户可自行校准功率、电压、背光

测试时间

扫描步进0.2mA1ms/

探测器检测波长

800~1700nm(支持850nm VCSEL器件测试)

数据库

支持本机数据库及SQL数据库服务器

光口检测器直径

1.0 mm(可选择2.0mm3.0mm

光口四向性差异

0.1dBm

光纤适配器

通用适配器(可配FC或万能接头)

光纤

单模、多模

通信口

RS232

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