普赛斯采用插卡式组合方案，根据客户需求，灵活配置，解决各种结构复杂的OSA器件的测试问题。既可以实现BOSA器件的快速测试，又可以实现结构复杂的Combo PON器件的一键测试。支持不同封装的 DFB和EML TOSA器件的LIV综合测试，也支持不同速率APD或PINTIA器件的接收灵敏度，响应度，暗电流等指标的测试。模拟器件实际应用环境，并进行内部光路的隔离度和光串扰测试，真实反映器件的性能。

方案特点

1、采用插卡式组合方案，配置灵活，设备集成度高，占用体积空间小

2、支持的器件种类多，测试指标全

3、测试效率高，支持一体测试

4、EOS防护：包括静电，浪涌，过流保护设计，合理的APD加电顺序控制

5、RS232接口，普通PC即可连接，无需额外的接口要求

6、软件兼容性好：不同器件类型和各种测试参数均为可选项

7、型号设置过程简单，测试操作方便，软件主界面测试结果和数据显示醒目

8、数据库存储灵活，提供的本地数据库或是网络服务器数据库链接接口

9、数据管理分析操作简单，独立的数据查询分析软件，方便客户对测试数据进行管理

方案详情

上位机软件测试界面如下：

器件类型和测试条件可任意配置，支持VBR、暗电流、灵敏度、饱和光功率、响应度、光隔离度、Xtalk串扰，Ith、正向电压、背光电流、功率，暗电流，斜效率以及Kink点、EaPo等参数测试。

现有成熟的2.5G、10G、25G ROSA或BOSA的测试方案，以及结构复杂的Combo PON器件的综合测试解决方案，各方案配置型号如下：

1、2.5G BOSA器件测试方案：PSS BOSA02501；

2、10G BOSA器件测试方案：PSS BOSA01001；

3、10G ROSA器件测试方案：PSS ROSA01001；

4、25G ROSA器件测试方案：PSS ROSA25001（不支持回损测试）、PSS ROSA25002（支持回损测试）；

5、Combo PON器件测试方案：PSS CPON01001；

各测试方案都配套设计有操作简单的测试夹具，解决用户所有测试难点。