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激光器光斑分析与焦距测试系统

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       TOSA器件的生产耦合过程中经常遇到TO器件的LIV测试数据良好,光谱的测试数据良好,但是生产耦合中无法耦合到理想的光功率值。很大原因在于TO器件的光斑出现了横模异常问题,普赛斯电子提供激光器的光谱分析与焦距测试系统,帮忙生产企业检测删选横模异常的TO器件,便于分析生产工艺问题,提高生产耦合效率。


产品特点

1、实时显示光斑变化的图形,扫描步进精度高

2、高精度图形处理算法,可测试TO的焦距值

3、有支持EML器件的光斑分析系统


技术指标

参数

指标

测试效率

单颗LIV测试:<1s

单颗LIV+光谱测试<4-6s(根据光谱仪型号相关)

驱动电流

范围0-100mA,精度0.1%±0.1mA

输入光功率

范围0-10mW,精度1%±50uW

背光电流

范围0-2500uA,精度0.1%±5uA

正向电压

范围0-3.0V,精度0.5%±50mV

电流扫描方式

支持连续电流扫描和脉冲电流扫描,脉冲电流宽度100us

测试时间

扫描步进0.1~1.0可以配置,1ms/

探测器适用波长

800-1700 nm

数据库

本地Access保存或者SQL服务器保存

输出特性曲线

(1)I-L特性 (2)I-V特性 (3) 光谱参数

输出电信号参数

Ith PImVfRsSEKink

输出光信号参数

DFB:(1)λp 峰值波長 (2)PEAK(3)SMSR(4)-20dBwide

FP: (1)MeanWavelength  (2)RMS

校正功能

提供校准功能,用户可自行校准


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