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BAR条自动测试系统

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    用于光电生产企业的BAR条(LD芯片)光电性能检测,可测试长波长激光器BAR条的常温、高温条件下的前光、背光的LIV参数和光谱参数,设备自动化程度高,图像算法智能,支持多种封装的BAR条多种参数测试,有利于生产企业提高测试效率,提高产品的品质把控。

产品特点

1、自动上下料:自动上下料,支持从料盒自动取料下料

2、智能识别:自动识别每个BAR条的第一颗CHIP位置,支持CHIP的ID自动编码

3、快速测试:支持前光和背光的同时测试,1s内完成单颗LIV的测试,4-6s内完成LIV+光谱的测试;

4、集成双工作台:单台设备集成常温和高温台测试

5、支持脉冲扫描方式:最大可能减少CHIP发热带来的影响

技术指标

参数

指标

测试效率

单颗LIV测试:<1s

单颗LIV+光谱测试<4-6s(根据光谱仪型号相关)

驱动电流

范围0-100mA,精度0.1%±0.1mA

输入光功率

范围0-10mW,精度1%±50uW

背光电流

范围0-2500uA,精度0.1%±5uA

正向电压

范围0-3.0V,精度0.5%±50mV

电流扫描方式

支持连续电流扫描和脉冲电流扫描,脉冲电流宽度100us

测试时间

扫描步进0.1~1.0可以配置,1ms/

探测器适用波长

800-1700 nm

数据库

本地Access保存或者SQL服务器保存

输出特性曲线

(1)I-L特性 (2)I-V特性 (3) 光谱参数

输出电信号参数

Ith PImVfRsSEKink

输出光信号参数

DFB:(1)λp 峰值波長 (2)PEAK(3)SMSR(4)-20dBwide

FP: (1)MeanWavelength  (2)RMS

校正功能

提供校准功能,用户可自行校准


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