资料下载申请

关闭

收发TO器件测试

资讯客服:027-89908766

发射TO器件自动盘测系统

/cn/center/info_25.aspx?itemid=26


       普赛斯PAT-56-I性能自动测试系统,采用一盘64颗TO-LD器件测试,支持多种类型的TO-56封装,能实现激光器TO器件的自动快速测试(LIV综合测试、光谱测试)。该系统和我司老化箱一体设备、分拣设备配套使用,提高工厂生产、测试效率,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。



产品特点

1.     测试效率高:单颗LIV测试+机械运动时间<1s

2.     兼容性好:支持TO-CAN封装激光器,常用共阳型和独立型,多种管脚定义切换;支持多种光谱仪接口,     测量光谱特性

3.     全线自动化程度高:可和我司化箱一体设备、分拣设备配套使用,提高工厂生产、测试效率;

4.     可靠的ESD/EOS防护



技术指标


参数

指标

测试效率

单颗LIV测试<1s

单颗LIV+光谱测试平均4-5s(根据具体的光谱仪型号相关)

测试路数

单板64

器件类型

共阳型和独立型,支持TO-CAN封装激光器,提供多种管脚定义切换

恒流驱动范围

0-100mA,精度0.1% FS±0.1mA

输入光功率

50mW;待测光功率精度优于0.2dB

背光电流

0-2500uA,精度0.1% FS±5uA9+

LD 过压保护点

0-3.0V,精度0.5% FS±50mV

PD暗电流

0-100nA,精度1%FS±2nA25℃±5℃、%50湿度环境下)

电流扫描方式

连续电流扫描和脉冲电流扫描,脉冲电流宽度200us

采集参数

驱动电流、LD电压、接收光功率、背光电流、PD暗电流

计算参数

阈值电流、RsslopeKink点以及各种定点查找

校正功能

支持PO,Vf以及Mpd电流的校准

探测器探测波长

800-1700 nm

数据库

系统自带SQL数据库,断电可以保存 LD 测试的数据

测单颗物料时间

<1s(不包含机械运动、不带光谱测试、不含暗电流时间);

<1.5S(含机械运动、不带光谱测试、含暗电流时间)

4s~6s(含机械运动、带光谱测试,具体时间根据光谱仪而异)

测定项目

(1)PIV曲线特性(2MPD暗电流 (3) 光谱特性(直流加电、光谱仪客户自带)


资料下载

Copyright © 2017 武汉普赛斯电子技术有限公司. All Rights Reserved. Designed by Wanhu 鄂ICP备17029825号;公安机关备案号42011502000463