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接收TO器件自动盘测系统

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       为了提高光器件的可靠性。光器件在TO封装前会经过性能测试,避免不良器件流入下一个生产环节而带来人力、物力损失。本项目TO-46盘测机主要用来自动测试64颗器件的击穿电压、暗电流、工作电流、响应度、D+/D-等性能特性,具有高集成度、高速、高稳定性的特点。


产品特点

1.  PD暗电流小:0.01nA的显示分辨率,nA级的精度

2.  动态调制信号测试:采用调制信号测试,可显示调制波形

3.  响应度测试:支持动态响应度测试,耦合效率高

4.  多波长切换:不同波长的光源切换容易

5.  光源稳定性高:光源采用PID反馈控制,长时间运行稳定性高

6.  半定制化软件,可支持客户数据库

7.  桌面式设备,占地面积小


技术指标


测量参数

APD器件:击穿电压、暗电流、工作电流、响应电流、接收强度

PIN-TIAVpd/Mon:暗电流、工作电流、响应电流、接收强度

测试时间

不加光测试单颗<1s

加光测试单颗平均4-6s

Vbr

击穿电压,重复精度0.2V, 测量时间<0.4

Id

暗电流, 范围:0~200nA误差1%FS±2nA测量时间<1.0

Vcc-TIA

输出TIA电压:0-5V,误差1%±0.1V,支持回采

Icc

TIA电流,范围:0-100mA误差1%FS±1mA,测量时间<0.2

Iapd

响应电流,范围:0-1mA误差1%FS±0.1uA,测量时间<0.5

D+D-

接收强度,范围:0-3.3V,误差1%FS±2mV

输出光源

输出光源1490nm,功率可调,功率长期稳定指标(+/-0.1db);

光源可更换。调制频率:1M


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